Laboratori de Microscopia Electrònica
Serveis
Recerca universitària i industrial en l’àmbit de la microscòpia electrònica enfocada a l’estudi de superfícies, defectes, desgast, fatiga, fractures, etc., de materials metàl·lics, ceràmics, polimèrics, etc.
Centre: Escola d’Enginyeria de Barcelona Est (EEBE) - UPC
Departament: Departament de Ciència i Enginyeria de Materials - CEM
Av. Eduard Maristany, 16, Edifici I, planta 0, porta 11
08019 Barcelona
Microscopi electrònic de rastreig d'emissió de camp (MER d'emissió de camp)
Més Informació | ||
|
Equip que permet la caracterització i observació de mostres sòlides mitjançant imatges obtingudes amb electrons secundaris i retrodispersats, així com la caracterització de materials per espectrometria d’energia dispersiva de RX d’alta resolució. Permet realitzar anàlisis químics quantitatius i qualitatius, la distribució superficial simultània d’elements químics (fins a 32) i l’anàlisi químic del perfil lineal. Disposa d’un detector per la determinació de textures cristal·logràfiques (EBSD). |
Marca: JEOL
|
Microscopi electrònic de rastreig (MER)
Més Informació | ||
Equip que permet la caracterització i observació de mostres sòlides mitjançant imatges obtingudes amb electrons secundaris i retrodispersats (fotografia i contrast Z). Disposa d’un espectròmetre d’energia dispersiva de RX que permet l’anàlisi química semiquantitativa de les mostres. |
Marca: JEOL
|
Microscopi electrònic de transmissió i rastreig (METB)
Més Informació | ||
|
Equip que permet l’observació i caracterització de materials mitjançant una unitat de rastreig i transmissió (METB) per difracció i microdifracció d’electrons, amb acceleració de 10 a 120 KV..
|
Marca: JEOL
|
Metal·litzador Platí / pal·ladi
Més Informació | ||
|
Equip que permet la deposició de capes conductores fines i uniformes, mitjançant ionització d’un blanc, per a l’observació i l'estudi a través de microscòpia electrònica.
|
Marca: Cressington Model: 208HR
|
Metal·litzador d'or, carboni i or-pal·ladi
Més Informació | ||
Equip que permet la deposició de capes conductores fines i uniformes, mitjançant ionització d’un blanc, per a l’observació i l'estudi a tavés de microscòpia electrònica. |
Marca: BALZERS
|
Electropolit de làmines primes
Més Informació | ||
|
Equip que consta d’una cel·la d’electropolit i d'aprimament de làmines primes entre 200 i 300 µm, metàl·liques i ceràmiques, per a la posterior observació i estudi per MET (microscopi electrònic de transmissió), mitjançant l’aplicació d’una tensió i d’un raig d’electròlit que incideix per un o tots dos costats de la mostra ("thin foil"). |
Marca: STRUERS |
Estereomicroscopi
Més Informació | ||
Equip òptic que permet l’observació i l'anàlisi estereoscòpiques de components, així com la realització d’estudis fractogràfics. |
Marca:ZEISS
|
Talladora de pressió Isomet
Més Informació | ||
Equip que permet fer talls de precisió a velocitats baixes, adequat per a qualsevol tipus de mostra. |
Marca: BUEHLER
|
Comité executiu:
- Professora Maria Pau Ginebra Molins, Directora del grup d’investigació Biomaterials, Biomecànica i Enginyeria de Teixits (BBT)
- Professor Luis Llanes Pitarch, Director del grup d’investigació Centre d'Integritat Estructural, Micromecànica i Fiabilitat dels Materials (CIEFMA)
- Professora Maria Lluïsa Maspoch, directora del grup d’investigació Plàstics i Compòsits Ecològics (e-PLASCOM)
- Professor José María Cabrera Marrero, Director del grup d’investigació Processos de Conformació de Materials Metàl·lics (PROCOMAME)
Interlocutors o interlocutores:
Dades de Contacte | |
---|---|
Prof. Jose M. Manero Planella Responsable Servei de Microscopia Electrònica |
Telèfon: 934010714 Adreça electrònica: jose.maria.manero@upc.edu |
Isaac López Insa Tècnic del Servei de Microscopia Electrònica |
Telèfon: 934016712 Adreça electrònica: isaac.lopez-insa@upc.edu |
Horari d'atenció: De dilluns a divendres de 9 a 17h. |
Reserva d'equips per a personal intern
Tarifes
Darrera actualització: juny 2021 | |
PROJECTES COMPETITIUS |
36,60 €/h |
---|---|
EXTERNS |
350 €/h – 130 €/mostra |
Comparteix: