Vés al contingut (premeu Retorn)

Sou a: Inici / Recerca / Laboratori de Microscopia Electrònica

Laboratori de Microscopia Electrònica

 

Serveis

 

Recerca universitària i industrial en l’àmbit de la microscòpia electrònica enfocada a l’estudi de superfícies, defectes, desgast, fatiga, fractures, etc., de materials metàl·lics, ceràmics, polimèrics, etc.

 

Centre: Escola d’Enginyeria de Barcelona Est (EEBE)

Departament:    Departament de Ciència i Enginyeria de Materials - CEM

Av. Eduard Maristany, 16, Edifici I, planta 0, porta 11

08930 Sant Adrià de Besòs (Barcelona)

 

 

Microscopi electrònic de rastreig d'emissió de camp (MER d'emissió de camp)

Més Informació
                                   5.jpg                         


Equip que permet la caracterització i observació de mostres sòlides mitjançant imatges obtingudes amb electrons secundaris i retrodispersats, així com la caracterització de materials per espectrometria d’energia dispersiva de RX d’alta resolució. Permet realitzar anàlisis químics quantitatius i qualitatius, la distribució superficial simultània d’elements químics (fins a 32) i l’anàlisi químic del perfil lineal. Disposa d’un detector per la determinació de textures cristal·logràfiques (EBSD).



Marca: JEOL
Model: JSM-7001F

                                        

 

Microscopi electrònic de rastreig (MER)

Més Informació
4.jpg                              


Equip que permet la caracterització i observació de mostres sòlides mitjançant imatges obtingudes amb electrons secundaris i retrodispersats (fotografia i contrast Z). Disposa d’un espectròmetre d’energia dispersiva de RX que permet l’anàlisi química semiquantitativa de les mostres.


Marca: JEOL
Model: JSM 6400

                                        

 

Microscopi electrònic de transmissió i rastreig (METB)

Més Informació
7.jpg                    




Equip que permet l’observació i caracterització de materials mitjançant una unitat de rastreig i transmissió (METB) per difracció i microdifracció d’electrons, amb acceleració de 10 a 120 KV..





            


Marca: JEOL
Model: 1200 EX-II

                                                                       


Metal·litzador Platí / pal·ladi

Més Informació
208hr_rpt.jpg




Equip que permet la deposició de capes conductores fines i uniformes, mitjançant ionització d’un blanc, per a l’observació i l'estudi a través de microscòpia electrònica.





Marca: Cressington

Model: 208HR


                                       

 

Metal·litzador d'or, carboni i or-pal·ladi

Més Informació
3.jpg               




Equip que permet la deposició de capes conductores fines i uniformes, mitjançant ionització d’un blanc, per a l’observació i l'estudi a tavés de microscòpia electrònica.




Marca: BALZERS
Model: SCD 004

                                        

 


Electropolit de làmines primes

Més Informació

1.jpg                             


Equip que consta d’una cel·la d’electropolit i d'aprimament de làmines primes entre 200 i 300 µm, metàl·liques i ceràmiques, per a la posterior observació i estudi per MET (microscopi electrònic de transmissió), mitjançant l’aplicació d’una tensió i d’un raig d’electròlit que incideix per un o tots dos costats de la mostra ("thin foil").


Marca: STRUERS
Model: TENUPOL 3

                                                                      

 

Estereomicroscopi

Més Informació
2.jpg    

 

Equip òptic que permet l’observació i l'anàlisi estereoscòpiques de components, així com la realització d’estudis fractogràfics.


Marca: ZEISS                 
Model: STEMI 2000-C

                                        

 

Talladora de pressió Isomet

Més Informació
8.jpg




Equip que permet fer talls de precisió a velocitats baixes, adequat per a qualsevol tipus de mostra.




Marca: BUEHLER
Model: ISOMET

                                        

 

 

 

Comité executiu:

 

  • Professora Maria Pau Ginebra Molins, Directora del grup d’investigació Biomaterials, Biomecànica i Enginyeria de Teixits (BBT)
  • Professor Luis Llanes Pitarch, Director del grup d’investigació Centre d'Integritat Estructural, Micromecànica i Fiabilitat dels Materials (CIEFMA)
  • Professora Maria Lluïsa Maspoch, directora del grup d’investigació Plàstics i Compòsits Ecològics (e-PLASCOM)
  • Professor José María Cabrera Marrero, Director del grup d’investigació Processos de Conformació de Materials Metàl·lics (PROCOMAME)

 

 

Interlocutors o interlocutores:

 

Dades de Contacte

Prof. Jose M. Manero Planella

Responsable Servei de Microscopia Electrònica

Telèfon: 934010714

Adreça electrònica: jose.maria.manero@upc.edu

Isaac López Insa

Tècnic del Servei de Microscopia Electrònica

Telèfon: 934016712

Adreça electrònica: isaac.lopez-insa@upc.edu

Horari d'atenció: De dilluns a divendres de 9 a 17h.

 

Reserva d'equips per a personal intern

 

Tarifes


Darrera actualització: juny 2021
PROJECTES COMPETITIUS

36,60 €/h

EXTERNS

350 €/h – 130 €/mostra